2025年9月10日至12日，第二十一屆北京分析測試學術報告會暨展覽會（BCEIA 2025）在北京·中國國際展覽中心（順義館）隆重舉行。作為全球分析測試領域的頂級盛會，本屆展會以“輝煌四十載，再譜新篇章”為主題，紀念BCEIA創辦四十周年，吸引了來自全球的750余家知名儀器廠商與新銳企業參展，展覽面積達5.43萬平方米，集中展示了分析測試領域的最新技術成果與解決方案。

展會概況：四十載積淀，鑄就行業輝煌

BCEIA自1985年創辦以來，已成功舉辦二十屆，成為中國分析測試領域最具影響力的國際學術會議和展覽會之一。本屆展會不僅規模空前，更在學術交流與展覽展示方面實現了全面升級。學術報告會圍繞國家重大戰略需求與國際科技前沿，組織了18場學術分會報告、24場主題論壇及多場技術交流會，邀請了包括中國科學院院士江桂斌、謝曉亮，美國分析化學主編J. Sweedler教授等在內的眾多國內外專家學者，共同探討分析測試技術的最新進展與未來趨勢。